蔡司Metrotom测量系统

• 来源期刊: 模具工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: 测量系统 实时可视化 断层扫描 成像技术 技术融合 断层成像 损伤分析 三维模型
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 页码范围: 52
• 页数: 1页
• 分类号: P931

摘要

蔡司的Metrotom系统，其断层成像技术融合了计量学和断层扫描与计算机重构，与传统测量的破坏测量比较，利用断层成像技术可实现产品无损可视化测量，无论是孔隙度或损伤分析，通过三维模型，一切尽收眼底。断层成像技术能大幅缩短产品的研发周期和质量分析时间，实现工件瑕疵的实时可视化。具有便于理解的彩色几何图形对比以及各种标准格式的详尽的测试报告。