X射线荧光光谱法测定WC-TiC中钨、钛的质量分数

• 作者: 张俊峰
• 来源期刊: 湖南有色金属
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线荧光光谱法 WC-TiC 钨 钛
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 分析
• 页码范围: 64-66
• 分类号: O434.1
• 字数: 1424字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5540.2011.01.016

摘要

采用X射线荧光光谱(XRF)法对WC-TiC中钨、钛的质量分数进行了测定.根据WC-TiC中钨、钛元素的荧光强度和含量所具有的对应关系,经过校正拟合出钨、钛元素的实际工作曲线.对WC-TiC中钨、钛元素的测定结果与化学结果吻合,相对标准偏差(RSD,n=10)均在0.07%以下,完全能够满足生产的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张俊峰		9	16	3.0	3.0