水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响

• 作者: 张明艳 牛颖
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米杂化 水含量 微观形貌
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 60-63
• 分类号: TM206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2011.03.015

摘要

用溶胶-凝胶法合成了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO<,2>)纳米杂化薄膜,并采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)和扫描电子显微镜(SEM)分析水含量对PI/SiO<,2>杂化薄膜的化学结构和微观结构的影响.结果表明:水含量对PI/SiO<,2>微观结构影响很大.当SiO<,2>与水含量摩尔比为1:6时,SiO<,2>能均匀分散在PI基质中,团聚的SiO<,2>粒径均小于20nm.当SiO<,2>与水含量摩尔比为1:8时,部分团聚的SiO<,2>粒径超过100nm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明艳	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	65	507	13.0	18.0
2	牛颖	大庆医学高等专科学校化学教研室	13	29	4.0	4.0