原文服务方: 绝缘材料       
摘要:
用溶胶-凝胶法合成了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO<,2>)纳米杂化薄膜,并采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)和扫描电子显微镜(SEM)分析水含量对PI/SiO<,2>杂化薄膜的化学结构和微观结构的影响.结果表明:水含量对PI/SiO<,2>微观结构影响很大.当SiO<,2>与水含量摩尔比为1:6时,SiO<,2>能均匀分散在PI基质中,团聚的SiO<,2>粒径均小于20nm.当SiO<,2>与水含量摩尔比为1:8时,部分团聚的SiO<,2>粒径超过100nm.
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文献信息
篇名 水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响
来源期刊 绝缘材料 学科
关键词 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米杂化 水含量 微观形貌
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 性能研究
研究方向 页码范围 60-63
页数 分类号 TM206
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-9239.2011.03.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张明艳 哈尔滨理工大学材料科学与工程学院 65 507 13.0 18.0
2 牛颖 大庆医学高等专科学校化学教研室 13 29 4.0 4.0
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研究主题发展历程
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聚酰亚胺
二氧化硅
纳米杂化
水含量
微观形貌
研究起点
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期刊影响力
绝缘材料
月刊
1009-9239
45-1287/TM
大16开
1966-01-01
chi
出版文献量(篇)
2892
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