联合SWI与DWI在急性脑弥漫性轴索损伤中的应用价值

• 作者: 刘一平 吴剑飞 易自生 陈志斌
• 来源期刊: 放射学实践
• 学科: 医学
• 关键词: 脑弥漫性轴索损伤 磁共振成像 弥散加权像 磁敏感成像
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 中枢神经影像学
• 页码范围: 402-405
• 分类号: R445.2|R651.1
• 字数: 2939字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0313.2011.04.012

摘要

目的:评价联合磁敏感成像(SWI)与扩散加权成像(DWI)在急性期脑弥漫性轴索损伤中的应用价值.方法:32例脑弥漫性轴索损伤急性期患者,所有患者行常规MRI序列、DWI及SWI序列全脑扫描.结果:共检出病灶313个,T1WI 78个,T2WI 207个,FLAIR 292个,DWI 286个,SWI 297个.SWI显示245个病灶内分布斑片状、点状出血灶,其它序列共显示43个内分布出血灶.SWI、DWI病灶检出率高于常规T2WI(x2=82.465,x2=59.584;P＜0.01),SWI、FLAIR及DWI病灶检出率无明显差异(x2=3.052;P＞0.05).结论:联合SWI与DWI有利于提高急性脑弥漫性轴索损伤的检出率,有助于准确评价病变的严重程度,SWI与DWI应作为急性脑弥漫性轴索损伤的常规扫描序列组合.