脉冲激光背照射单粒子效应实验研究

• 作者: 刘海南 曹洲 杨献 王德坤
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 单粒子效应 SRAM 背面辐照 脉冲激光 抗辐射加固
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 884-887
• 分类号: TN386
• 语种: 中文

摘要

为避免集成电路正面金属层对激光的阻挡,采用背面照射的方法对非加固SRAM IL-2和加固SRAM 1020-2进行了单粒子效应实验.对脉冲激光背面照射实验的相关问题进行了探讨.比较了两种器件产生单个位翻转的有效激光阈值能量,验证了器件加固措施的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹洲	兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理国家级重点实验室	14	60	4.0	7.0
2	刘海南	中国科学院微电子研究所	14	32	3.0	5.0
3	王德坤	兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理国家级重点实验室	1	4	1.0	1.0
4	杨献	中国科学院微电子研究所	2	5	1.0	2.0