大容量Flash存储器空间辐射效应试验研究

• 作者: 于庆奎 唐民 孟猛 张大宇 张洪伟
• 来源期刊: 航天器工程
• 关键词: 航天器 Flash存储器 辐射效应 电离总剂量 单粒子效应
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与试验
• 页码范围: 130-134
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8748.2011.06.034

摘要

分析了商用Flash存储器应用于航天器时应考虑的空间辐射效应和机理,并利用钴-60γ射线和重离子加速器对韩国三星公司生产的大容量Flash存储器K9XXG08UXA系列进行了抗电离总剂量试验和抗单粒子试验,以评估其空间应用可行性。试验结果显示：这一系列存储器的累积电离总剂量为50krad（Si）时,器件部分数据丢失,重新配置刷新后,功能正常;在线性能量传递值小于38MeV.cm2/mg时,未发生单粒子锁定和功能中断现象。空间辐射环境采用AD-AMS 90%最坏情况模型,太阳同步轨道高度965km,存储单元单粒子翻转率计算值为2×10-2次/（天.器件）。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张洪伟		9	42	4.0	6.0
2	唐民		14	65	5.0	7.0
3	于庆奎		14	65	5.0	7.0
4	孟猛		8	16	2.0	3.0
5	张大宇		7	36	4.0	6.0