垂直Bridgman法生长Cd1-XMnxTe晶体的缺陷研究

• 作者: 唐可 张继军 彭兰 施凌云 王林军 黄健
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: Cd1-xMnxTe 位错 Te夹杂相 孪晶 红外透过率
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 页码范围: 543-547,551
• 分类号: TB32
• 字数: 2742字
• 语种: 中文

摘要

本文采用垂直布里奇曼(Bridgman)法生长了尺寸为Φ30 mm×130mm的Cd1-xMnxTe晶体,利用Nakagawa腐蚀液显示了晶体的位错、Te夹杂相和孪晶缺陷,并采用傅立叶变换红外光谱仪研究了晶体的红外透过率与晶体缺陷之间的关系.结果表明:生长态Cd1-xMnxTe晶体的位错密度为104～105 cm-2,Te夹杂相密度为103～104cm-2,晶体中的孪晶主要为共格孪晶,孪晶面为[111]面,且平行于晶体生长方向.在入射光波数4000～500 cm-1范围,晶体的红外透过率为36.7%～55.3%,红外透过率越大,表明晶体的位错和Te夹杂相密度越低,晶体对该波长范围的红外光表现为晶格吸收和自由载流子吸收.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王林军	上海大学材料科学与工程学院	109	441	11.0	14.0
2	施凌云	上海大学材料科学与工程学院	7	17	3.0	4.0
3	黄健	上海大学材料科学与工程学院	17	28	3.0	4.0
4	张继军	上海大学材料科学与工程学院	20	48	4.0	6.0
5	唐可	上海大学材料科学与工程学院	4	12	2.0	3.0
6	彭兰	上海大学材料科学与工程学院	2	18	2.0	2.0