基于FPGA的频率特性测试仪的设计

• 作者: 刘耀 汤勇明 郭伟然
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 测试仪 幅频特性 相频特性 FPGA 数字化
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 713-717
• 分类号: TM932
• 字数: 3161字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2011.06.026

摘要

为了更好地利用频率特性测试仪,也称扫频仪(FSI),测量被测电路网络的幅频特性和相频特性,提出了一种基于FPGA核心的新型频率特性测试仪设计方案.并在此基础上实现了测量500 Hz至125 kHz带宽的幅频特性和相频特性的功能,各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合,与点频测量法相比较误差在5％以内,并在小型化,数字化,低功耗方面有所特色.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤勇明	东南大学电子科学与工程学院	57	263	9.0	13.0
2	郭伟然	东南大学电子科学与工程学院	2	9	2.0	2.0
3	刘耀	东南大学电子科学与工程学院	1	7	1.0	1.0