基于介电谱分析聚酰亚胺薄膜的老化特征

• 作者: 吴广宁 崔易 曹开江 王鹏 罗杨 高波
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺薄膜 绝缘 老化 介电谱
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 43-47
• 分类号: TM215.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2011.06.012

摘要

对纳米和普通聚酰亚胺薄膜进行了双极性脉冲电压下的老化试验,分析了薄膜老化前后的介电频率谱和温度谱,并借助电镜扫描分析,研究了薄膜老化前后的微观结构形态与宏观介电性能之间的关系.结果表明:老化使聚酰亚胺薄膜介电频率谱中的偶极子弛豫损耗峰向高频移动,低温区的界面极化损耗峰向高温移动；且老化使聚酰亚胺薄膜分子链断裂,生成分子量小的极性分子,使取向极化更易建立；纳米粒子的加入,削弱了老化因子对聚酰亚胺薄膜内部结构的破坏作用,使偶极子取向带来的弛豫损耗大大减小；纳米掺杂形成大量的界面缺陷,使界面极化带来的介质损耗大大增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	高波	西南交通大学电气工程学院	320	5733	38.0	59.0
3	王鹏	西南交通大学电气工程学院	67	665	15.0	23.0
4	曹开江	西南交通大学电气工程学院	24	410	14.0	19.0
5	罗杨	西南交通大学电气工程学院	30	555	16.0	23.0
6	崔易	西南交通大学电气工程学院	6	233	6.0	6.0