高性能CMOS带隙基准电压源及电流源的设计

• 作者: 刘强 徐星 袁红辉 陈世军
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS 带隙基准 运算放大器 电源抑制比 温度系数
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计与应用
• 页码范围: 229-233
• 分类号: TN432
• 字数: 1889字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.03.012

摘要

介绍了一种高性能CMOS带隙基准电压源及电流源电路,基准电压源使用两个二极管串联结构来减小运放失调影响结果的系数,同时采用大尺寸器件减小运放的失调;采用共源共栅电流镜提供偏置电流来减小沟道长度调制效应带来的影响;在此基准电压源的基础上,利用正温度系数电流与负温度系数电流求和补偿的方法,设计了一种基准电流源.使用CSMC公司0.5μm CMOS工艺模型,利用Spectre工具对其仿真,结果显示:电源电压为5V,在-40～85℃的温度范围内,基准电压源温度系数为20.4×10-6/℃,直流电源抑制比为1.9mV/V,电流源温度系数为27.3×10-6/℃,电源抑制比为57dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘强	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	235	4502	28.0	60.0
2	徐星	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	48	241	9.0	14.0
3	袁红辉	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	20	117	7.0	9.0
4	陈世军	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	20	98	5.0	8.0