边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用

• 作者: 李永红 王启宁
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: DSP 边界扫描 测试与诊断 存储器测试
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 微处理器一可编辑器件应用
• 页码范围: 60-64
• 分类号: TM930
• 字数: 2541字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2011.04.015

摘要

针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试.测试结果表明:该测试方法对边界扫描器件及非边界扫描器件可进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离至最小的测试单元.同时详细阐述了测试诊断方案、硬件设计方案、测试脚本开发等内容,该测试与诊断方法较大的改善了含DSP电路板的测试覆盖率和定位精度,具有非常重要的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李永红	中北大学信息与通信工程学院	77	364	9.0	14.0
2	王启宁	中北大学信息与通信工程学院	2	6	2.0	2.0