一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法

• 作者: 张红南 文跃荣 邓榕
• 来源期刊: 湖南大学学报（自认科学版）
• 关键词: 动态功耗 扫描测试 组合逻辑电路 测试信号 静态功耗
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 40-43
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

提出了一种通过电压控制来实现扫描测试低功耗优化的方法(压控法).该方法主要采用插入门控晶体管来控制组合逻辑单元供电,从而有效地解决了在扫描测试移入过程中测试信号向组合逻辑的无用传播,由于组合逻辑的供电受到控制,因此压控法不仅有效降低了无用的动态功耗,同时也大大降低了由于供电所产生的漏电静态功耗.而且门控晶体管的插入对于当前设计的面积和时序影响都很小.实验结果表明,压控法对面积和延迟的影响远远小于以往插入逻辑门单元的方法,同时对功耗的优化最高可达近32%的改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓榕	长沙大学电子与通信工程系	5	11	2.0	3.0
2	张红南	湖南大学物理与微电子科学学院	25	100	5.0	8.0
3	文跃荣	湖南大学物理与微电子科学学院	1	1	1.0	1.0