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摘要:
集成电路的广泛使用以及表面封装技术的不断发展,传统测试技术越来越显得捉襟见肘,在模拟集成电路测试上尤为突出.为了提高模拟集成电路的可测性设计,降低其测试难度及测试工作量,以集成运算放大器为例,结合放大器频率响应理论,提出了利用脉冲信号测量放大器通频带的方法.介绍了测试原理及测试思路,设计并实现了简单的放大器通频带自动测试系统.将实验结果与传统测试方法所得数据进行了对照,验证了其可行性,系统具有结构简单、易于实现和集成等特点.
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文献信息
篇名 放大器通频带自动测试系统的设计与实现
来源期刊 国外电子测量技术 学科 工学
关键词 通频带 自动测试 上限频率 窗口比较器
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 研究与开发
研究方向 页码范围 50-53
页数 分类号 TM932
字数 3015字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8978.2011.03.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 冯长江 33 209 8.0 13.0
2 张之武 6 13 2.0 3.0
3 李晓峰 5 13 3.0 3.0
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研究主题发展历程
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通频带
自动测试
上限频率
窗口比较器
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月刊
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大16开
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1982
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