DMC2011部分参展设备展前预览

• 来源期刊: 数控机床市场
• 学科: 工学
• 关键词: 参展设备 Extended Renishaw 预览 标准分辨率 光学仪器 光栅尺
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 26-28,30;32-34
• 页数: 1页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文

摘要

1．OGP奥智品光学仪器（上海）有限公司 ·X轴可延长到300mm ·Extended Xaxis：300mm ·使用新型Renishaw带型光栅尺性能更可靠——0．1μm标准分辨率