X射线双组分质量厚度测量优化能量组合

• 作者: 陈敏聪
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双能 X射线 等效能量 质量厚度 最佳低压
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 页码范围: 1245-1249
• 分类号: TL812|O734
• 字数: 2865字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2011.11.015

摘要

介绍了用X射线等效能量法计算双组分物质质量厚度的方法,该方法在计算过程中采用单组分物质的等效质量衰减系数来替代双组分的等效质量衰减系数.通过射线吸收模拟实验,理论上计算了该方法的误差,结果表明在理论计算的双组分样品厚度范围内,该方法可以达到很好的精度,具备可行性.同时讨论了不同高压组合对质量厚度计算误差的影响.发现在固定一个高压的前提下,存在一个最佳低压,可以使质量厚度计算误差最小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈敏聪	南京工程学院计算机工程学院电科技教研室	4	4	1.0	2.0