拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应

• 作者: 何珂 张翼 薛其坤 马旭村
• 来源期刊: 物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 拓扑绝缘体 Bi2 Se3 分子束外延 角分辨光电子能谱 扫描隧道显微镜
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 拓扑绝缘体专题
• 页码范围: 434-439
• 分类号: O484.1
• 语种: 中文

摘要

拓扑绝缘体是近年来发现的一类新的量子材料,已成为凝聚态物理的研究热点领域.厚度仅几纳米的拓扑绝缘体薄膜不但具有奇特的物理性质,而且还是拓扑绝缘体应用于平面器件的基础.文章以Bi2 Se3为例,介绍了Bi2 Se3家族拓扑绝缘体薄膜的分子束外延生长以及其能带、自旋结构和拓扑性质随层厚的演化.这些结果为人工调控拓扑绝缘体的电子结构和物理性质提供了指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛其坤	中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室	17	30	4.0	5.0
5	张翼	中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室	36	450	11.0	20.0
6	马旭村	中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室	6	38	4.0	6.0
7	何珂	中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室	6	28	3.0	5.0