晶体取向测量的计算公式及其图解法

• 作者: 付玮 符梁屏
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 物理学
• 关键词: 晶体取向 衍射斑点 线焦点 θ角圆形图 X射线源
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 计算模拟
• 页码范围: 122-126
• 分类号: O722
• 字数: 1991字
• 语种: 中文

摘要

为了便于测量和计算,通过系统X射线衍射实验研究和理论分析,改进了X射线衍射透射及反射几何关系图,推导出定量计算公式,并创立了晶体取向测量图形.使用这种定量计算公式及图形可以非常简便、迅速而又准确地得到晶体取向的反射衍射斑点θR和透射衍射斑点θT.为了便于精确测量和更有效地利用高级测试仪器,在X射线衍射仪日常工作的同时,使用原有线焦点等实验方法进行了累计X射线衍射宽点拍照研究.结果表明,用射线源线焦点拍照的精确度与点焦点相同,操作方便,并可大大缩短调机和开机时间,充分发挥了X射线衍射仪的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付玮	南昌航空大学无损检测技术教育部重点实验室	4	56	2.0	4.0
2	符梁屏	南昌航空大学无损检测技术教育部重点实验室	1	0	0.0	0.0