测向天线阵互耦效应分析

• 作者: 白春惠
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 测向天线阵 互耦效应 矩量法 互阻抗
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 40-43
• 分类号: TN918
• 字数: 2509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2011.10.013

摘要

天线阵元间的互耦效应将导致天线阵列的电参数和方向性的改变,从而影响测向系统的性能。针对天线阵列各单元之间的互耦现象,提出了利用矩量法精确分析天线阵列各单元上的电流分布,进一步通过互阻抗网络计算法求出测向天线单元的实际激励电压的幅度和相位,进而得到天线的辐射和接收特性。对实际的均匀直线阵列超分辨测向系统中的互耦效应进行了分析,给出了仿真结果,验证了互耦效应对测向性能的影响。