一起500kV罗百Ⅰ线合成绝缘子串断裂原因分析

• 作者: 张福增 赵伟 赵庆州
• 来源期刊: 南方电网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 合成绝缘子 断裂 界面区域 局部放电
• 年，卷（期）: 2011,（z2）
• 所属期刊栏目: 2011南网技术论坛二等奖论文
• 页码范围: 32-35
• 分类号: TM216.3
• 字数: 3014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-0629.2011.z2.009

摘要

为了改善合成绝缘子生产及其运行维护,通过多种试验分析一起500 kV罗百Ⅰ线合成绝缘子断裂原因,结果表明,该绝缘子并非脆断,而是界面区域长期局部放电加剧芯棒和护套的蚀损与老化所致.基于分析结果,对如何做好复合绝缘子运行工作提出了建议和意见.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张福增		39	560	15.0	22.0