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摘要:
温度检测是芯片和系统中经常需要的功能,温度检测电路的应用非常广泛.文章详细分析了与温度成正比(PTAT)电压的产生原理,并以此原理为基础设计了一种基于双极工艺的温度检测电路,电路的设计输出电压与温度成正比.通过使用Cadence Spectre仿真工具对电路的功能进行仿真,结果表明该电路在-40℃~120℃内能正常工作,输出的检测电压与温度呈比较精确的正比关系,偏差仅为0.01V.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 一种使用双极工艺的温度检测电路
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 双极工艺 温度检测 PTAT
年,卷(期) 2011,(4) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 35-38
页数 分类号 TN402
字数 1906字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2011.04.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何颖 23 77 4.0 8.0
2 易峰 6 17 3.0 4.0
3 张又丹 3 4 1.0 2.0
4 郭海平 4 10 1.0 3.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
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参考文献  (1)
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2005(1)
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  • 二级引证文献(0)
2017(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
双极工艺
温度检测
PTAT
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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