X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量

• 作者: 乔鹏 张庆贤 米争锋 葛良全 谷懿
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱分析 粉末压片制样法 化探样品 基本参数法 经验系数法
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 页码范围: 1295-1299
• 分类号: O657.34
• 字数: 1812字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2011.11.026

摘要

采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2 O3、Al2 O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定.采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应.用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10％,其余均小于5％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	谷懿	成都理工大学核技术与自动化工程学院	58	314	9.0	14.0
3	张庆贤	成都理工大学核技术与自动化工程学院	76	250	8.0	11.0
4	乔鹏	成都理工大学核技术与自动化工程学院	5	19	3.0	4.0
5	米争锋	成都理工大学核技术与自动化工程学院	2	11	2.0	2.0