192Ir单/双源无损探伤技术在JFE-HITEN610U2L低温球罐中的应用

• 作者: 王龙岗 陈用坚
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: JFE-HITEN610U2L 乙烯 丙烯 球罐 192 Ir源 X射线探伤
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

为了减少球罐施工中无损探伤工作量和工期,经实践证明,采用192Ir源并配合T2类胶片的整体探伤方案可以在JFE-HITEN610U2L低温球罐焊缝无损探伤中使用,并且底片黑度和像质计灵敏度都达到了标准要求.此方案较传统的X射线探伤方式在工期、质量、HSE管理方面更有优势.这也是新版JB/T 4730-2005《承压设备无损检测》中关于γ源探伤相关要求的成功应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈用坚		2	2	1.0	1.0
2	王龙岗		6	9	1.0	3.0