射线追踪在电离层探测中的应用

• 作者: 云广平 郭万振
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 电离层模型 射线追踪 水平不均匀性
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 图像·编码与软件
• 页码范围: 12-15
• 分类号: TP274
• 字数: 2753字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2011.01.005

摘要

通过对电离层探测数据的处理,得到电离层的水平不均匀性模型.对这种水平不均匀电离层模型进行射线追踪,应用变步长射线追踪方法对赤道双峰模型进行射线追踪.电离层射线追踪的路径反映了电子密度和折射率的水平不均匀性,对电离层的斜向探测具有重要的价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭万振	西安电子科技大学理学院	2	15	2.0	2.0
2	云广平	西安电子科技大学理学院	6	26	3.0	5.0