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摘要:
本文通过ANSYS有限元分析软件对薄膜的热应力进行了模拟计算,并通过理论计算验证了其合理性.模拟出了薄膜应力值及分布情况,分析了薄膜沉积温度与薄膜厚度对薄膜度应力的影响.从模拟的结果可以看出,薄膜上表面X方向应力主要集中在薄膜中心,边缘应力较小,但边缘的形变较大;薄膜的热应力随着薄膜沉积温度的升高而增大,随着膜厚的增加而减小.
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内容分析
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关键词热度
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文献信息
篇名 AlN薄膜的热应力模拟计算
来源期刊 光机电信息 学科 物理学
关键词 热应力 AlN薄膜 有限元
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 10-14
页数 分类号 O484.4
字数 2510字 语种 中文
DOI 10.3788/OMEI 20112801.0010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王玉霞 长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室 20 136 6.0 11.0
2 邹微微 长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室 3 9 2.0 3.0
3 徐扬 长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室 3 5 1.0 2.0
4 张秀 长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室 2 9 2.0 2.0
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光机电信息
月刊
1007-1180
22-1250/TH
大16开
吉林省长春市
12-171
1958
chi
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