离子推力器加速栅寿命概率性分析

• 作者: 张天平 李小平 贾艳辉
• 来源期刊: 推进技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 离子推力器 加速栅极 寿命 高斯分布,可靠性
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 静电推力器
• 页码范围: 766-769
• 分类号: V439
• 语种: 中文

摘要

交换电荷离子对加速栅极的溅射腐蚀是离子推力器的关键失效模式之一,基于交换电荷离子对加速栅溅射腐蚀的物理机理,对离子推力器加速栅工作寿命进行了概率性建模。利用该模型对20cm Xe离子推力器加速栅寿命和其达到预期寿命的可靠度进行了评估。结果显示加速栅的寿命近似服从高斯分布,当推力器工作环境压力近似6.7×10-3Pa时,加速栅工作寿命达到3kh的可靠度为0.9352。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张天平	兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室	103	412	10.0	15.0
2	贾艳辉	兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室	30	101	6.0	8.0
3	李小平	兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室	8	48	3.0	6.0