氢对TC4钛合金电子束焊接头疲劳裂纹扩展速率的影响

• 作者: 任瑞铭 刘昕 刘鹏涛 王亚军 赵秀娟 陈春焕 齐健
• 来源期刊: 航空材料学报
• 关键词: 氢 TC4钛合金 电子束焊 疲劳裂纹扩展速率 断口
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 页码范围: 52-55
• 分类号: TG456.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5053.2011.3.010

摘要

采用充氢CT试样对TC4钛合金电子束焊接头的室温疲劳裂纹扩展速率进行了测定,并对试样断口和接头各区显微组织进行了观察.试验结果表明:充氢母材试样在低速扩展区和失稳扩展区的da/dN相对于未充氢试样有明显的提高,但不同氢含量之间差别不大,在稳态扩展区(Paris区),氢对da/dN的影响很小.充氢焊缝试样在整个裂纹扩展过程中的da/dN明显提高,且随着氢含量的增加而增加.断口分析结果表明氢的加入使得材料脆性增大,促进了裂纹的扩展.在Paris区,组织结构的转变对da/dN的影响显著,电子束焊接头焊缝的针状马氏体组织比层片状α+β组织具有更高的抵抗裂纹扩展的能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚军		23	455	9.0	21.0
2	赵秀娟	大连交通大学材料科学与工程学院	45	137	7.0	9.0
3	刘昕		20	106	6.0	9.0
4	陈春焕	大连交通大学材料科学与工程学院	40	150	7.0	10.0
5	任瑞铭	大连交通大学材料科学与工程学院	76	463	12.0	18.0
6	刘鹏涛	大连交通大学材料科学与工程学院	22	41	3.0	5.0
7	齐健	大连交通大学材料科学与工程学院	1	8	1.0	1.0