F52法兰/X52接管环焊接头开裂原因浅析

• 作者: 冯耀荣 刘迎来 吉玲康 张建勋 牛靖 王鹏 齐丽华
• 来源期刊: 焊管
• 关键词: F52法兰 微观组织 环焊接头 焊接冷裂纹
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 13-16
• 分类号: TG142|TG156.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3938.2011.08.003

摘要

通过化学成分、微观组织、断口形貌分析等方法对某管线场站建设中F52法兰/X52接管环焊接头裂纹产生的原因进行了研究.结果表明,裂纹出现于打底焊缝F52法兰侧的近缝区,呈现出沿晶+穿晶的开裂形貌,属于焊接冷裂纹.打底焊法兰侧近缝区的粗大马氏体是裂纹产生的主要原因,焊接工艺不当是裂纹产生的直接诱因,控制F52法兰的化学成分和适当的打底焊前预热是防止该裂纹产生的主要途径.