微波组件生产中多余物的来源与预防措施

• 作者: 凌学民 杜银波
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多余物 机械加工 可靠性 颗粒碰撞噪声检测 摇检
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 封装、检测与设备
• 页码范围: 247-251
• 分类号: TN707
• 字数: 4523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.03.016

摘要

对生产、使用中出现的多起因多余物导致的质量问题的原因进行了分析,探讨了如何控制多余物和提高产品的可靠性.原材料、生产环境、工艺控制、检验手段和人员水平是控制多余物产生的主要因素.在实际生产中通过加强原材料的检验和筛选,改进生产环境条件和完善规章制度,优化产品的工艺设计,合理进行工序布局,提高操作和检验人员技术水平以及增加检验手段等措施,有效地剔除了产品中的多余物,减少了多余物带来的质量问题,保证了产品在使用中的高质量和高可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜银波	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	13	2.0	3.0
2	凌学民	中国电子科技集团公司第十三研究所	1	7	1.0	1.0