△VBE测试在产线的应用

• 作者: 陈菊华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: △VBE 热阻 封装
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 9-11,25
• 分类号: TN305.94
• 字数: 1714字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2011.02.003

摘要

产品在封装过程中往往存在一定的缺陷需要我们在测试时加以筛选出来,而热阻对晶体管的可靠性有着重要影响,我们利用晶体管△VBE参数与热阻在一定条件下满足一定的关系,通过对晶体管△VBE参数的测试从而间接地测试热阻参数,实现对封装产品的质量控制,具有测量效率高、测试成本低、对器件无损伤等优点.文章主要描述产品在生产过程中存在的缺陷,引入△VBE的测试需求,介绍了△VBE测试的主要技术参数,△VBE的测试流程和△VBE测试在产线的实际应用.我们通过△VBE的测试来减少产品的缺陷,提高产品的可靠性,提高产品的质量,从而满足客户需求,增强企业的竞争力.