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摘要:
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4H-SiC基半超结VDMOSFET单粒子烧毁效应
4H-SiC
垂直双扩散MOSFET
半超结
单粒子烧毁
新型高压半超结功率MOSFET的优化设计
电力半导体器件
半超结
电压支持层
击穿电压
超结的击穿机理与特性分析
电力半导体器件
超结
击穿
电荷平衡
电场分布
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 低压超结技术
来源期刊 中国电子商情·基础电子 学科
关键词
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 69-74
页数 分类号
字数 4564字 语种 中文
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相关学者/机构
期刊影响力
中国电子商情·基础电子
月刊
chi
出版文献量(篇)
2793
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