InxGa1-xAs/GaAs量子阱应变量对变温光致发光谱的影响

• 作者: 叶志成 姚江宏 曹雪 皮彪 舒永春 许京军 邢晓东 龚亮
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 分子束外延 InGaAs/GaAs 应变量子阱 变温光致发光
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 164-168
• 分类号: O472.3
• 字数: 2712字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20113202.0164

摘要

利用变温光致发光(PL)研究了In0.182Ga0.818As/GaAs应变及应变补偿量子阱在77～300 K温度范围内的发光特性.随着温度T的升高,PL峰位向低能方向移动.在应力作用下In0.182Ga0.818As/GaAs量子阱的价带顶轻空穴带和重空穴带发生了劈裂.通过理论计算推导应变随温度变化对InxGa1-xAs/GaAs量子阱带隙能量的影响.在Varshni公式基础上,引入由应力导致的带隙能量变化项△Eg.带隙能量计算结果与实验数据吻合较好.通过不同温度下光致发光半峰全宽的变化验证了应力随温度变化对量子阱发光峰的影响.