中子衍射应力分析谱仪模拟实验

• 作者: 孙光爱 樊志剑 陈彦舟 陈杰 陈波
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 蒙特卡罗模拟 中子衍射应力分析谱仪 SIMRES 赝偏移
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 页码范围: 840-843
• 分类号: TL817+.9
• 字数: 2627字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2011.08.002

摘要

利用蒙特卡洛模拟程序SIMRES对中子衍射应力分析谱仪进行模拟实验.首先比较了V5Cr - 5Ti合金和α-Fe样品对应的探测器记录的中子强度.然后对无应力状态下的α-Fe平板贯穿扫描,得到完全沉浸和不完全沉浸时赝偏移变化曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈杰	清华大学工程物理系	23	460	12.0	21.0
2	陈波	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	97	475	12.0	18.0
3	孙光爱	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	33	103	4.0	9.0
4	陈彦舟	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	6	3	1.0	1.0
5	樊志剑	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	11	12	2.0	2.0