X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及18个次量成分

• 作者: 付冉冉 任春生 余清 廖海平 张爱珍
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 铁矿石 X射线荧光光谱法 全铁 次量成分
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 页码范围: 36-40
• 分类号: O657.34
• 字数: 2409字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2011.05.008

摘要

采用X射线荧光光谱法测定铁矿石中主量成分(TFe)及18个次量成分(P、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Mn、TiO2、V2O5、K2O、S、Cr2O3、Ni、Co、Zn、Pb、Cu、Na2O、As).以固定理论α影响系数法校正基体效应,使各成分的适用检测范围都得到较大拓宽;采用熔融方法制样,消除了试样的粒度效应和矿物效应.为了避免S的损失,样品经预氧化后灼烧,由软件计算或准确测定样品的烧失量.精密度试验表明,各成分的标准偏差(SD)为0.001%～0.268%.方法用于铁矿石实际样品分析,结果与其他方法结果相吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付冉冉		20	141	7.0	11.0
2	张爱珍		20	154	5.0	12.0
3	任春生		20	188	7.0	13.0
4	廖海平		14	127	6.0	11.0
5	余清		9	103	5.0	9.0