可测量纳米级别尺寸的新型超精密尺子

• 作者: 陈东
• 来源期刊: 功能材料信息
• 学科: 工学
• 关键词: 超精密 纳米级 尺子 尺寸 测量 加工技术 碳化硅 研究人员
• 年，卷（期）: gnclxx,（2）
• 页码范围: 51
• 页数: 1页
• 分类号: TB921

摘要

据媒体报道，日本关西学院大学研发出一种以硬度仅次于钻石的碳化硅为主要材料的超精密尺子，可用于测量纳米级别的尺寸。 碳化硅质地坚硬，很难加工，为此研究人员专门开发出一种新的加工技术。他们把碳化硅放入超真空环境中加热到约2000℃，再对其表面进行切削。