高功率半导体激光器测试系统

• 作者: 任永学 沈牧 王晓燕 程义涛
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 流程图 扫描测试 P-I曲线 V-I曲线
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、检测与设备
• 页码范围: 646-650
• 分类号: TN365
• 字数: 2079字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.08.017

摘要

利用SGI40 - 125AAA型程控直流电源、PCI - GPIB卡、电压表、功率计表以及光谱仪等建立高功率半导体激光器测试系统,并在LabVIEW环境下开发了测试软件,通过软件控制直流电源、功率计表等仪器的触发输出、触发输入实现测试设备的同步工作,在保证测试准确性的同时,实现了快速(每个测试点的工作时间约300 ms)的扫描测试,在测试速度上比多个仪器单独测试有了明显提高.可以实现千瓦级连续工作半导体激光器的光功率P、电压V、电光转换效率η、阈值电流、光谱等参数的扫描测试.建立的测试系统准确度高,扫描速度快,测试软件界面操作方便,显示结果直观、全面.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓燕	中国电子科技集团公司第十三研究所	18	49	4.0	6.0
2	程义涛	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	6	1.0	2.0
3	沈牧	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	9	1.0	3.0
4	任永学	中国电子科技集团公司第十三研究所	11	33	4.0	5.0