WLAN与TD-LTE系统在2.4GHz频段共存干扰

• 作者: 杨家玮 王侃
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: TD-LTEWLAN 路径损耗 带外功率限值
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 62-65
• 分类号: TN811.4
• 字数: 2259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2011.09.019

摘要

作为系统共存产生的带外干扰,由接收机和发射机特性的不完善造成。工作于ISM频段的WLAN设备的带外辐射值会对TD-LTE系统造成一定程度干扰,因此,需要对WLAN设备的带外辐射值进行限制。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨家玮	西安电子科技大学信息科学研究所	97	526	14.0	18.0
2	王侃	西安电子科技大学信息科学研究所	2	24	2.0	2.0