基于结构光技术的高光表面三维测量方法

• 作者: 刘先勇 刘桂华 吴丽娟 张启戎 高国防 魏志勇
• 来源期刊: 工具技术
• 学科: 工学
• 关键词: 机器视觉 三维测量 多次曝光 投影仪-摄像机 高光表面
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与仪器
• 页码范围: 88-92
• 分类号: TH741
• 字数: 2985字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7008.2011.03.023

摘要

分析了结构光技术对高光表面无法完整测量的原因,提出一种双目多次曝光测量和投影仪-摄像机单目测量相结合的三维测量方法.双目结构光系统中的两个相机采用不同的曝光时间采集一系列光栅条纹,并从每次曝光中选择高质量像素解相.将每次曝光的选择结果拼合成一张完整的相位图,并通过三角原理法计算三维坐标.舣目结构只对左右相机可视区域测量,投影仪-摄像机单目测量避免了由于某个单摄像机视线存在高光或遮挡等原因引起的三维测量数据缺失问题,有效提高了测苗结果的完整性.实验表明,上述方法测量高光表面具有良好的效果,系统测量精度可达0.06mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘先勇		56	484	14.0	19.0
2	刘桂华		75	350	9.0	13.0
3	张启戎		11	144	7.0	11.0
4	高国防		8	41	2.0	6.0
5	魏志勇		2	37	2.0	2.0
6	吴丽娟		1	14	1.0	1.0