KDP晶体应力数字式检测方法

• 作者: 刘昂 徐凯源 李强 柴立群 高波 魏小红
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 数字式应力仪 KDP晶体 应力双折射 光学检测
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 光电测量与检测
• 页码范围: 52-56
• 分类号: O437|TN247
• 字数: 2461字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2011.12.010

摘要

使用高精度数字式应力仪测量KDP晶体的应力,给出整体应力分布.通过沿光轴方向测量,消除晶体.光和e光的双折射效应的影响,准确得到晶体材料自身的应力双折射分布.实验结果表明,测量重复性优于0.1nm/cm.对KDP晶体材料应力的高精度数字式检测对于加工和使用具有重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柴立群		32	329	12.0	16.0
2	魏小红		5	12	1.0	3.0
3	高波		9	18	2.0	4.0
4	李强		9	18	2.0	4.0
5	徐凯源		7	8	2.0	2.0
6	刘昂		8	8	2.0	2.0