RFID标签专用测试系统的校准

• 作者: 邢荣欣
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: RFID测试系统 校准 测量不确定度
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 光电测试技术
• 页码范围: 102-106
• 分类号: TB97
• 字数: 3945字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2011.03.025

摘要

目前,我国对RFID标签的应用非常广泛.然而,对于RFID测试设备/读卡器还没有成熟的校准方法,这不利于RFID标签的质量控制.以典型RFID测试系统MP300TCL1为例,介绍了RFID测试系统的校准方法,并对测量不确定度进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邢荣欣	中国电子技术标准化研究所计量与检测中心	5	15	2.0	3.0