半导体可饱和吸收反射镜的损伤机制研究

• 作者: Fhomas Dekorsy Joerg Neuhaus 张靓
• 来源期刊: 长春理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 超快激光器 半导体可饱和吸收反射镜(SESAM) 热像仪
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 页码范围: 20-22,26
• 分类号: O472+.2|O434.1
• 字数: 1922字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9870.2011.04.006

摘要

随着超快激光器向高功率、高脉冲能量发展,半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)的损伤机制和高阈值SESAM的研究必不可少,本文用热像仪对高功率超快激光器中工作的SESAM进行热成像,得出不同腔型、不同功率超快激光器中工作的SESAM的热成像图.用平均功率约为83W,单脉冲能量约为24μJ,重复频率为3.4MHz的高功率超快激光器发出的激光脉冲作用于SESAM时,观察到了SESAM表面的热损伤,并用干涉测量法对其表面进行面形分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张靓	长春理工大学理学院	4	56	3.0	4.0
2	Joerg Neuhaus		1	4	1.0	1.0
3	Fhomas Dekorsy		1	4	1.0	1.0