组合逻辑单元软错误可靠性分析

• 作者: 孙金银 李暾
• 来源期刊: 中国电子商情：通信市场
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 可靠性分析 逻辑电路
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 优秀论文
• 页码范围: 105-109
• 分类号: TP332
• 字数: 2313字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6675-B.2011.04.050

摘要

提出了一种基于时序等价性检查技术的组合逻辑单元系统级可靠性分析理论和方法，并基于VIS系统下用C语言实现了原型工具。实验结果表明本方法可以成功筛选出逻辑电路中的敏感点，为后续优化设计提供指导。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李暾	国防科学技术大学计算机学院	29	182	7.0	12.0
2	孙金银	国防科学技术大学计算机学院	1	0	0.0	0.0