透射式特征X射线测厚仪研制

• 作者: 屈国普 赵越 郑贤利 黄云
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 特征X射线 数据处理器 监控软件 性能分析
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 页码范围: 591-594
• 分类号: TL99
• 字数: 2038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2011.05.027

摘要

论述了透射式特征X射线测厚原理,并对样机的硬件组成特征X射线发生装置、X射线探测器、数据处理器和监控软件进行了介绍.通过对测厚样机的实验测试,结果显示测量较薄物质时测厚仪反应灵敏,测量精度较高,相对误差在±5%以内,达到设计要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄云	南华大学核科学技术学院	5	20	2.0	4.0
2	屈国普	南华大学核科学技术学院	103	338	9.0	11.0
3	赵越	南华大学核科学技术学院	39	56	4.0	5.0
4	郑贤利	南华大学核科学技术学院	29	50	4.0	6.0