阿伏加德罗常数测量与千克重新定义

• 作者: 张继涛 李岩 罗志勇
• 来源期刊: 科学通报
• 关键词: 计量学 阿伏加德罗常数 X射线晶体密度法 单晶硅球 千克 重新定义
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 717-724
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.1360/972010-2078

摘要

阿伏加德罗常数(NA)是一个联系微观尺度和宏观尺度的基本物理常数,它的精确测量可用于重新定义国际基本单位千克和摩尔,因而有助于推动国际单位制的发展.现代NA测量方法为X射线晶体密度法,它以单晶硅为材料,通过测量其摩尔质量、宏观密度和晶格常量得到NA,该方法涉及到的关键技术包括单晶硅材料的生长、大尺寸单晶硅球加工、硅原子量测量技术、X射线干涉术、精密光学干涉技术、超薄膜厚度及成份测量技术等.本文综述了现代NA测量的研究进展、研究难点和未来的研究方向,并以千克重新定义为例.分析了NA测量研究在基础计量学领域的重要作用.