GaN基大功率白光LED的高温老化特性

• 作者: 冯士维 周舟 张光沉 李静婉 郭春生
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 大功率白光LED 老化 热阻 失效分析
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 1046-1050
• 分类号: TN383.1
• 字数: 2642字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20113210.1046

摘要

对大功率GaN基白光LED在85℃下进行了高温加速老化实验.经6500 h的老化,样品光通量退化幅度为28％ ～33％.样品的Ⅰ-V特性变化表明其串联电阻和反向漏电流不断增大,原因可归结为芯片欧姆接触的退化及芯片材料中缺陷密度的提高.样品的热特性变化显示出各结构层热阻均明显增大,这是由散热通道上各层材料的老化及焊料层出现大面积空洞引起的.分析表明,高温老化过程中芯片和封装材料的退化共同导致了LED的缓变失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭春生	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	302	10.0	15.0
2	冯士维	北京工业大学电子信息与控制工程学院	59	438	12.0	18.0
3	李静婉	北京工业大学电子信息与控制工程学院	3	37	3.0	3.0
4	张光沉	北京工业大学电子信息与控制工程学院	10	80	5.0	8.0
5	周舟	北京工业大学电子信息与控制工程学院	4	43	3.0	4.0