基于CT技术的装配缺陷检测系统

• 作者: 张红民 王培容
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: CT技术 SQL Server2000 装配缺陷 无损检测 特征参数
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 仪器研制
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28|TP391.41
• 语种: 中文

摘要

提出了基于工业CT技术的装配缺陷自动检测系统的设计方法.系统采用C/S模式,以C++Builder作为前端开发工具,以SQL Server2000作为后台数据库管理系统,可实现工件内部的漏装和误装等装配缺陷无损检测.利用重建图像的灰度级数快速定位出粗略缺陷区域,再以圆投影值、方向码值、Zernike矩值作为特征参数对缺陷精确识别.系统已在重庆大学ICT中心投入使用,识别速度和精度均达到用户要求,运行效果良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张红民		34	153	6.0	11.0
2	王培容		15	19	2.0	4.0