Nakagami-m衰落信道下差分跳频接收机性能分析

• 作者: 娄景艺 屈晓旭 胡凌
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 差分跳频 Nakagami-m衰落 序列检测 线性合并 矩生成函数
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 信号与信息处理技术
• 页码范围: 38-41
• 分类号: TN914.41
• 字数: 2821字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2011.12.008

摘要

目前差分跳频系统的性能研究主要集中在无衰落信道和Rayleigh衰落信道,但短波信道是一种典型的多径衰落信道,采用Nakagami-m信道衰落模型能够更好地描述短波信道的特性.研究了Nakagami-m衰落信道下序列检测线性合并差分跳频接收机的误符号性能,给出了误符号率的闭式表达式,并证明了在m=1时所得结果与已有的瑞利衰落信道下接收机性能研究结果的一致性.仿真结果表明:当信道衰落程度逐渐降低时,差分跳频接收机误符号性能逐渐提高,并最终达到无衰落AWGN信道下的误符号性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	娄景艺	海军工程大学电子工程学院	36	131	7.0	9.0
2	屈晓旭	海军工程大学电子工程学院	42	153	7.0	9.0