Nordson DAGE X射线检测系统荣膺2011年全球科技大奖

• 来源期刊: 现代表面贴装资讯
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检测系统 科技 国际会展中心 电子生产设备 贸易博览会 检测设备 慕尼黑
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 29
• 页数: 1页
• 分类号: TN407

摘要

Nordson Corporation的分公司Nordson DAGE日前宣布其XD7600NT Diamond FP X射线检测系统荣膺检测设备类全球科技大奖。大奖是在2011年11月15日星期二向公司颁发的，颁奖仪式于2011年第19届慕尼黑国际电子生产设备贸易博览会期问在德国慕尼黑国际会展中心举行。