漫反射板法标定成像光谱仪的精度分析

• 作者: 向阳 张春雷
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 成像光谱仪 漫反射板法 辐射定标 光谱辐射特性
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2828-2836
• 分类号: TP73
• 字数: 4539字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20111912.2828

摘要

用漫反射板法标定成像光谱仪时不仅要考虑定标仪器的精度,还要了解成像光谱仪几何参数和仪器参数对标定结果的影响.本文根据漫反射板法标定成像光谱仪原理,推导了以定标角度、距离等几何参数和成像光谱仪仪器参数为自变量的探测器沿景物像元方向采集到的信号电子数变化表达式,据此对几何参数和仪器参数对标定的影响进行了分析.结果表明,F/#分别为3和4,入瞳口径为0.1～0.2m,辐照度标准灯照射距离取0.5～2m,且其测量精度为1 mm时,只要照射角小于12°,满足0.5°的测量精度,都可以使探测器采集到的信号电子数相对变化小于1％,从而可发挥标准探测器精度高的优势,使利用漫反射板的定标方法实现较高的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向阳	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	45	394	12.0	18.0
2	张春雷	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	18	100	7.0	9.0