用于中子单色器镶嵌分布测量的γ衍射装置的调试方法

• 作者: 姚振强 姚茂莹 徐家云 杨尊勇 王明秋 王晓影 谢超美
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 中子单色器 镶嵌分布 γ衍射 调试方法
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 页码范围: 580-583,587
• 分类号: TL816
• 字数: 2813字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2011.05.024

摘要

用γ衍射方法可以分析中子单色器晶体的镶嵌分布.由于γ射线的波长短,满足布拉格衍射条件的入射角比通常X衍射的要小两个量级,加上晶体镶嵌分布需要较高的分辨率,因此要成功进行γ衍射实验,必须要求γ衍射装置各部分之间满足精细的几何布局,这只有通过正确的调试才能实现.在建立正确调试方法的基础上,通过仔细调试,用2 Ci的198Au的较低活度γ源,实现了用γ衍射方法对Ce单晶单色器镶嵌分布的测量,得到镶嵌分布的半宽度约为12′,这一结果与期望值吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐家云	四川大学物理科学与技术学院	48	252	8.0	14.0
2	谢超美		13	25	3.0	4.0
3	王晓影		7	10	2.0	3.0
4	姚振强	四川大学物理科学与技术学院	5	4	1.0	2.0
5	杨尊勇	四川大学物理科学与技术学院	4	1	1.0	1.0
6	姚茂莹	四川大学物理科学与技术学院	4	1	1.0	1.0
7	王明秋	四川大学物理科学与技术学院	4	1	1.0	1.0