针对SMD晶体器件检测的机器视觉系统的设计

• 作者: 陈晓争 鲍丽星
• 来源期刊: 电子产品世界
• 学科: 工学
• 关键词: SMD 晶体 机器视觉
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 机器视觉
• 页码范围: 50-53
• 分类号: TN752.2
• 字数: 3995字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2011.06.010

摘要

SMD晶体器件的检测工序是其出厂前的最后一道工序，由于在测试时其电极具有方向性，因此需要对其进行方向识别。而传统光纤传感器无法实现稳定可靠的判别。本文提出了一种采用机器视觉系统进行判别的方法，降低了检测成本，提高了检测质量和效率。并对机器视觉系统硬件的搭建和软件测试算法进行了介绍。